我(wo)司(si)研(yan)發的UltraTEV開(kai)關(guan)櫃(gui)局(ju)部放(fang)電測(ce)試(shi)儀(yi)是壹臺(tai)便攜手(shou)持式(shi)儀(yi)器,集(ji)成(cheng)了暫(zan)態(tai)對(dui)地(di)電壓、超聲(sheng)波兩種檢(jian)測模(mo)式,可(ke)以非(fei)常簡便的檢(jian)測中高(gao)壓開(kai)關(guan)櫃(gui)的潛在破(po)壞性(xing)局(ju)部放(fang)電活(huo)動(dong)。定期的使用(yong)UltraTEV 局(ju)部放(fang)電測(ce)試(shi)儀(yi)檢(jian)查(zha)運(yun)行中的開(kai)關(guan)櫃(gui),可(ke)以有效查(zha)找(zhao)出故(gu)障風險(xian)並及(ji)時(shi)檢(jian)修(xiu)維(wei)護避(bi)免(mian)故障。
在線(xian)留言(yan)


10kV高(gao)壓開(kai)關(guan)櫃(gui)是(shi)向用(yong)戶供(gong)電(dian)最直接的設(she)備(bei),其(qi)運(yun)行可(ke)靠性(xing)直(zhi)接(jie)關(guan)系到供(gong)電(dian)質量(liang)和(he)供(gong)電(dian)可(ke)靠程(cheng)度。在長(chang)期運(yun)行中,高(gao)壓開(kai)關(guan)櫃(gui)受(shou)電(dian)、熱(re)、化(hua)學及(ji)異(yi)常狀況(kuang)影響(xiang)形(xing)成(cheng)絕(jue)緣(yuan)劣化(hua),易導(dao)致電(dian)氣絕(jue)緣(yuan)強(qiang)度(du)降(jiang)低,甚(shen)至發(fa)生故(gu)障。實(shi)踐(jian)表明(ming):局部放(fang)電是(shi)導(dao)致設(she)備(bei)絕(jue)緣(yuan)劣化(hua),發生(sheng)絕(jue)緣故障的主(zhu)要原(yuan)因(yin)。局部放(fang)電的監測(ce)與(yu)評價(jia)已(yi)經成為監測(ce)設(she)備(bei)絕(jue)緣(yuan)狀況(kuang)的重(zhong)要手段(duan),帶電局(ju)部放(fang)電檢(jian)測更能(neng)直接(jie)反映(ying)出電(dian)氣設(she)備(bei)內(nei)部的絕緣狀況(kuang),並能(neng)及(ji)時(shi)有(you)效地發現(xian)其絕(jue)緣(yuan)缺(que)陷,對(dui)減(jian)少不必(bi)要的設(she)備(bei)停(ting)電(dian)造(zao)成(cheng)的負荷(he)損失(shi)和(he)停電操作帶來(lai)的安全(quan)風險(xian),避免(mian)事故(gu)引(yin)起的用(yong)戶停電(dian),從(cong)而(er)提(ti)高(gao)供(gong)電(dian)可(ke)靠性(xing)。
我(wo)司(si)研(yan)發的UltraTEV開(kai)關(guan)櫃(gui)局(ju)部放(fang)電測(ce)試(shi)儀(yi)是壹臺(tai)便攜手(shou)持式(shi)儀(yi)器,集(ji)成(cheng)了暫(zan)態(tai)對(dui)地(di)電壓、超聲(sheng)波兩種檢(jian)測模(mo)式,可(ke)以非(fei)常簡便的檢(jian)測中高(gao)壓開(kai)關(guan)櫃(gui)的潛在破(po)壞性(xing)局(ju)部放(fang)電活(huo)動(dong)。定期的使用(yong)UltraTEV 局(ju)部放(fang)電測(ce)試(shi)儀(yi)檢(jian)查(zha)運(yun)行中的開(kai)關(guan)櫃(gui),可(ke)以有效查(zha)找(zhao)出故(gu)障風險(xian)並及(ji)時(shi)檢(jian)修(xiu)維(wei)護避(bi)免(mian)故障。
| 測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei) | 0-60dB |
| 測(ce)量(liang)帶寬 | 3-100MHz |
| 精(jing)度 | ±1dB |
| 最多每周期脈(mai)沖(chong)數 | 1000 |
| 最小脈(mai)沖(chong)計數(shu)水(shui)平 | 1 |
| 測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei) | -7dB~60dB |
| 分(fen)辨率 | 1dB |
| 精度(du) | ±1dB |
| 靈(ling)敏(min)度 | -61dB |
| 中心(xin)頻率(lv) | 40.0±1.0KHz |
| 帶寬 | 2.0KHz |
| 內(nei)置(zhi)電(dian)池(chi) | 鋰(li)電(dian)池,8.4V,1800mAh |
| 使用(yong)時(shi)間(jian) | 大約(yue)6小時(shi) |
| 充(chong)電時(shi)間 | 大約(yue)5小時(shi) |
| 電(dian)池保(bao)護 | 過(guo)壓過(guo)流保(bao)護 |
| 額定(ding)電(dian)壓 | 8.4V |
| 充(chong)電輸出電(dian)流 | 1A |
| 使用(yong)溫(wen)度 | 10℃-60℃ |
| 使用(yong)濕(shi)度 | <80% |
| 外(wai)殼 | 單色(se)成型塑(su)料(liao) |
| 屏(ping)幕(mu) | 240*320 TFT液晶(jing)顯(xian)示屏(ping) |
| 控(kong)制 | 6x按鍵(jian) |
| 接口(kou) | Micro USB接口(kou);充(chong)電器(qi)接口(kou);耳機(ji)接(jie)口(kou);外接(jie)聚(ju)波器接口(kou) |
| 耳機(ji) | 高(gao)保真(zhen)降(jiang)噪(zao)耳機(ji) |
| 儀(yi)器(qi)尺寸 | 178mm×75mm×30mm |
| 儀(yi)器(qi)重(zhong)量(liang) | 0.25KG |
| 箱(xiang)體(ti)尺寸 | 415mm×330mm×170mm |
| 箱(xiang)體(ti)重(zhong)量(liang) | 2.3KG |
| 整(zheng)套(tao)設(she)備(bei)重(zhong)量(liang) | 2.7KG |
| 使用(yong)溫(wen)度 | -20℃~50℃ |
| 環(huan)境濕(shi)度 | 0-90%RH |
| IP等級 | 54 |
運(yun)用(yong)地(di)電(dian)波檢(jian)測方法(fa)進(jin)行開(kai)關(guan)櫃(gui)局(ju)部放(fang)電的現(xian)場檢(jian)測時,要(yao)采(cai)取(qu)正(zheng)確(que)的測量(liang)方(fang)法。
空(kong)間(jian)的電磁波可(ke)進(jin)入(ru)開(kai)關(guan)櫃(gui)室(shi),另(ling)外(wai),變(bian)電站內的電力設(she)備(bei)也(ye)產生電(dian)磁波,這些幹擾電磁波信(xin)號(hao)會對(dui)檢(jian)測設(she)備(bei)造(zao)成(cheng)幹擾。為排(pai)除幹(gan)擾,在進(jin)行地(di)電波檢(jian)測時,需(xu)采(cai)取(qu)壹(yi)些抗幹擾的措(cuo)施:
(1)盡(jin)可(ke)能關(guan)閉幹擾(rao)源(yuan),如通訊設(she)備(bei)、強(qiang)光源(yuan)等。
(2)當地(di)電波的幅值超過(guo)閩(min)值(zhi)時(shi),可(ke)進(jin)行超聲(sheng)波檢(jian)測,根據(ju)超聲(sheng)波的結果(guo)判(pan)斷(duan)可(ke)判(pan)斷(duan)信(xin)號(hao)是否(fou)被(bei)嚴重(zhong)幹擾,如果(guo)超聲(sheng)波超過(guo)閾值(zhi),則判(pan)斷(duan)為(wei)局(ju)部放(fang)電的信(xin)號(hao),若超聲(sheng)波的幅度值較低,則可(ke)能是(shi)電(dian)磁幹擾。
開(kai)關(guan)櫃(gui)前面(mian)板中部及(ji)下(xia)部,後面(mian)板上(shang)部、側(ce)面(mian)板的上部,這些位置是母排(pai)、斷路(lu)器的對(dui)應區(qu)域(yu)。正(zheng)確(que)的檢(jian)測方式(shi)如下(xia)圖(tu)的左圖(tu)所示。

TEV現(xian)場檢(jian)測圖(tu)