1、局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)測(ce)試(shi)儀(yi)中(zhong)的(de)局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)是(shi)指在(zai)絕(jue)緣(yuan)的(de)局部(bu)位(wei)置(zhi)放電(dian)，它並不構成(cheng)整(zheng)個(ge)絕(jue)緣(yuan)的(de)貫通(tong)性擊穿(chuan)。它包含三種(zhong)放電(dian)形式：內部(bu)放(fang)電(dian)（在(zai)介質內部(bu)）、沿(yan)面(mian)放電(dian)（在(zai)介質表面(mian)）、電(dian)暈(yun)放電(dian)（在(zai)電(dian)極(ji)）。

　　2、電(dian)荷(he)量q在(zai)試(shi)品(pin)兩端(duan)瞬時註入(ru)壹(yi)定電(dian)荷(he)量，使(shi)試(shi)品(pin)端(duan)電(dian)壓(ya)的變(bian)化和由(you)局部(bu)放(fang)電(dian)本身(shen)引(yin)起的端(duan)電(dian)壓(ya)的變(bian)化相同，此註(zhu)入量即為(wei)局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)的(de)視在(zai)電(dian)荷(he)量。

　　3、視(shi)在(zai)放電(dian)量(liang)校(xiao)準(zhun)器(qi)

　　局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)視(shi)在(zai)放電(dian)量(liang)校(xiao)準(zhun)器(qi)是(shi)壹(yi)標(biao)準(zhun)電(dian)量(liang)發生(sheng)器(qi)，試(shi)驗前它以輸(shu)出某(mou)固定電(dian)量(liang)加之試(shi)品(pin)兩端(duan)，模(mo)擬該試(shi)品(pin)在(zai)此電(dian)量(liang)下放電(dian)時局部(bu)放(fang)電(dian)測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)響(xiang)應(ying)，此時調整刻度(du)系(xi)數，確定局部(bu)放(fang)電(dian)檢測儀(yi)的(de)量(liang)程(cheng)，以(yi)便(bian)在(zai)試(shi)驗時測量(liang)該試(shi)品(pin)在(zai)額定電(dian)壓(ya)下的(de)視在(zai)放電(dian)量(liang)。因該放電(dian)量(liang)時以標(biao)準(zhun)電(dian)量(liang)發生(sheng)器(qi)比較(jiao)後(hou)間接(jie)測(ce)出，而(er)非(fei)直(zhi)接測(ce)出，故(gu)此(ci)放(fang)電(dian)量(liang)稱(cheng)為(wei)“視(shi)在(zai)放電(dian)量(liang)”。

　　校(xiao)正(zheng)電(dian)量(liang)發生(sheng)器(qi)是(shi)測(ce)量局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)時*的儀(yi)器(qi)，它的性(xing)能(neng)參數直(zhi)接關(guan)系到(dao)測(ce)試(shi)結果的(de)準(zhun)確性(xing)。視在(zai)放電(dian)量(liang)校(xiao)準(zhun)器(qi)由(you)校(xiao)準(zhun)脈(mai)沖(chong)電(dian)壓(ya)發生(sheng)器(qi)和校(xiao)準(zhun)電(dian)容(rong)串(chuan)聯組(zu)成(cheng)，其(qi)參數主(zhu)要(yao)包括：脈沖(chong)波形上升(sheng)時間、衰減(jian)時間、內阻(zu)、脈沖(chong)峰值(zhi)、校(xiao)準(zhun)電(dian)容(rong)值等。校(xiao)準(zhun)脈(mai)沖(chong)電(dian)壓(ya)發生(sheng)器(qi)電(dian)壓(ya)波形上升(sheng)時間為(wei)從(cong)0.1U0到(dao)0.9U0的(de)時間，衰減(jian)時間定義為(wei)從(cong)峰(feng)值下(xia)降(jiang)到(dao)0.1U0的(de)時間。

　　4、檢測阻(zu)抗(kang)

　　局部(bu)放(fang)電(dian)測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)檢測阻(zu)抗(kang)是(shi)拾取(qu)檢測信(xin)號(hao)的(de)裝(zhuang)置(zhi)，在(zai)使用(yong)中(zhong)，應(ying)根(gen)據(ju)不同的(de)測試(shi)目的，被試(shi)品(pin)的種(zhong)類來(lai)選(xuan)擇合(he)適的檢測阻(zu)抗(kang)，以提高局部(bu)放(fang)電(dian)測(ce)量的靈(ling)敏(min)度、分辨(bian)能(neng)力(li)、波形特性及(ji)信(xin)噪(zao)比(bi)。檢測阻(zu)抗(kang)按調諧電(dian)容(rong)範圍分1～12號(hao)。

　　5、時間窗

　　局部(bu)放(fang)電(dian)測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)時間窗是(shi)為(wei)防止(zhi)大於局(ju)部(bu)放(fang)電(dian)的(de)幹擾(rao)信(xin)號(hao)進(jin)入(ru)峰(feng)值(zhi)檢波電(dian)路而(er)設計(ji)的(de)壹種電(dian)路裝(zhuang)置(zhi)。因在(zai)實際試(shi)驗時，尤其(qi)是(shi)在(zai)現(xian)場做試(shi)驗時，不可避免地會引(yin)入壹(yi)些(xie)幹擾(rao)，所(suo)以(yi)，時間窗的使(shi)用(yong)更顯(xian)得(de)重(zhong)要。