和(he)開(kai)關櫃局(ju)部放(fang)電測試(shi)儀有(you)關(guan)的(de)5個(ge)名詞(ci)解(jie)釋(shi),快來漲知(zhi)識
開(kai)關櫃局(ju)部放(fang)電測試(shi)儀采用(yong)先(xian)進的(de)抗幹(gan)擾組件和*的(de)門顯示電路,並(bing)具(ju)有(you)四(si)種高頻(pin)橢圓(yuan)掃(sao)描,適(shi)用(yong)於(yu)高壓(ya)產品(pin)的(de)型(xing)式(shi)、出(chu)廠試(shi)驗,新產品研(yan)制(zhi)試驗,電機、互(hu)感器、電纜、套管、電容器、變(bian)壓器、避雷器、開(kai)關及(ji)其它高(gao)壓電器局(ju)部放(fang)電的(de)定(ding)量(liang)測試(shi)。可供(gong)制(zhi)造廠、科研(yan)部門、電力部門現(xian)場使用(yong)。
開(kai)關(guan)櫃局(ju)部放(fang)電測試(shi)儀名詞(ci)介(jie)紹:
1、局(ju)部(bu)放(fang)電測量(liang)法的(de)理(li)論(lun)分(fen)析(xi)
局(ju)部(bu)放(fang)電測量(liang)方法分(fen)為電測法和(he)非(fei)電測法兩(liang)大(da)類(lei)。電測法應(ying)用(yong)較(jiao)多的(de)是(shi)脈沖(chong)電流(liu)法和(he)無(wu)線(xian)電幹(gan)擾電壓法。電測法已廣泛用(yong)於(yu)局部(bu)放(fang)電的(de)定(ding)量(liang)測量(liang)。
脈沖(chong)電流(liu)法的(de)測(ce)試(shi)原理(li)是(shi)試品(pin)產生(sheng)壹次(ci)局(ju)部(bu)放(fang)電,在(zai)其兩端(duan)就會(hui)產(chan)生壹個瞬(shun)時的(de)電壓變(bian)化,此時在(zai)被(bei)試(shi)品(pin)、耦(ou)合電容和(he)檢(jian)測阻(zu)抗組成的(de)回(hui)路中產(chan)生(sheng)壹脈沖(chong)電流(liu)。脈沖(chong)電流(liu)經過檢測阻(zu)抗會(hui)在(zai)其兩端(duan)產生(sheng)壹脈沖(chong)電壓,將(jiang)此脈沖(chong)電壓進行采集、放(fang)大(da)、顯示(shi)等處理(li),就可產(chan)生(sheng)局部(bu)放(fang)電的(de)壹些基本量(liang),尤其是(shi)局部(bu)放(fang)電量(liang)。
2、局部(bu)放(fang)電測量(liang)儀常(chang)用(yong)的(de)名詞(ci)術(shu)語(yu)
(1)局部(bu)放(fang)電
局部(bu)放(fang)電是(shi)指(zhi)在(zai)絕(jue)緣(yuan)的(de)局(ju)部(bu)位置(zhi)放(fang)電,它並(bing)不(bu)構(gou)成整(zheng)個絕緣(yuan)的(de)貫(guan)通(tong)性擊(ji)穿。它包(bao)含三(san)種放(fang)電形式(shi):內部(bu)放(fang)電(在(zai)介(jie)質(zhi)內(nei)部)、沿(yan)面放(fang)電(在(zai)介(jie)質(zhi)表面)、電暈放(fang)電(在(zai)電極(ji))。
(2)電荷(he)量(liang)q
在(zai)試(shi)品(pin)兩(liang)端(duan)瞬(shun)時註(zhu)入壹定(ding)電荷(he)量(liang),使試(shi)品(pin)端(duan)電壓的(de)變(bian)化和由局(ju)部(bu)放(fang)電本身(shen)引起的(de)端(duan)電壓的(de)變(bian)化相同,此註入量(liang)即(ji)為局部放(fang)電的(de)視(shi)在(zai)電荷(he)量(liang)。
(3)視在(zai)放(fang)電量(liang)校準器
視(shi)在(zai)放(fang)電量(liang)校準器是(shi)壹標(biao)準電量(liang)發(fa)生器,試(shi)驗前它以輸出(chu)某固定(ding)電量(liang)加之(zhi)試(shi)品(pin)兩端(duan),模擬該(gai)試品(pin)在(zai)此電量(liang)下放(fang)電時局(ju)部(bu)放(fang)電測試(shi)儀的(de)響應(ying),此時調(tiao)整(zheng)刻度系(xi)數,確(que)定(ding)局部放(fang)電檢測(ce)儀的(de)量(liang)程(cheng),以便在(zai)試(shi)驗時測(ce)量(liang)該(gai)試品(pin)在(zai)額(e)定(ding)電壓下的(de)視(shi)在(zai)放(fang)電量(liang)。因(yin)該(gai)放(fang)電量(liang)時以標(biao)準電量(liang)發(fa)生器比(bi)較(jiao)後間接測(ce)出(chu),而(er)非(fei)直(zhi)接測出(chu),故此放(fang)電量(liang)稱為“視在(zai)放(fang)電量(liang)”。
校正(zheng)電量(liang)發(fa)生器是(shi)測量(liang)局部(bu)放(fang)電時*的(de)儀(yi)器,它(ta)的(de)性(xing)能(neng)參數(shu)直(zhi)接關系(xi)到(dao)測試結(jie)果(guo)的(de)準確(que)性(xing)。
視在(zai)放(fang)電量(liang)校準器由(you)校準脈沖(chong)電壓發(fa)生器和(he)校準電容串聯(lian)組成,其參數(shu)主要包(bao)括:脈沖(chong)波形上(shang)升(sheng)時間(jian)、衰(shuai)減(jian)時間(jian)、內(nei)阻(zu)、脈沖(chong)峰(feng)值、校準電容值(zhi)等。
校準脈沖(chong)電壓發(fa)生器電壓波形上(shang)升(sheng)時間(jian)為從0.1U0到(dao)0.9U0的(de)時間(jian),衰(shuai)減(jian)時間(jian)定(ding)義為從峰(feng)值下降到(dao)0.1U0的(de)時間(jian)。
(4)檢(jian)測阻(zu)抗
檢測阻(zu)抗是(shi)拾(shi)取(qu)檢(jian)測(ce)信(xin)號的(de)裝(zhuang)置(zhi),在(zai)使(shi)用(yong)中,應(ying)根(gen)據不(bu)同的(de)測(ce)試(shi)目的(de),被(bei)試(shi)品的(de)種(zhong)類(lei)來(lai)選擇合適的(de)檢(jian)測(ce)阻(zu)抗,以提(ti)高(gao)局部(bu)放(fang)電測量(liang)的(de)靈敏度、分(fen)辨能(neng)力、波形特性及(ji)信(xin)噪比。
(5)時間(jian)窗(chuang)(門單元)
時間(jian)窗(chuang)是(shi)為防(fang)止(zhi)大(da)於(yu)局部(bu)放(fang)電的(de)幹(gan)擾信(xin)號進入峰(feng)值檢(jian)波電路而(er)設計(ji)的(de)壹種電路裝(zhuang)置(zhi)。因(yin)在(zai)實(shi)際試(shi)驗時,尤(you)其是(shi)在(zai)現(xian)場做試(shi)驗時,不(bu)可避免(mian)地(di)會(hui)引(yin)入壹些幹(gan)擾,所以,時間(jian)窗(chuang)的(de)使(shi)用(yong)更(geng)顯(xian)得(de)重(zhong)要(yao)。
時間(jian)窗(chuang)的(de)工作(zuo)原(yuan)理(li)是(shi)把(ba)橢圓(yuan)掃(sao)描時基分(fen)成導(dao)通(tong)(加(jia)亮區(qu)域)和(he)截(jie)止(未(wei)加(jia)亮(liang)區(qu)域)兩(liang)部分(fen),通(tong)過(guo)改(gai)變時間(jian)窗(chuang)的(de)位(wei)置(zhi)和寬度將(jiang)放(fang)電脈沖(chong)置(zhi)於(yu)導(dao)通(tong)(加(jia)亮區(qu)域),幹(gan)擾脈沖(chong)置(zhi)於(yu)截(jie)止(未(wei)加(jia)亮(liang)區(qu)域),此時儀(yi)表讀數(shu)即(ji)為放(fang)電脈沖(chong)數(shu)值,而(er)幹(gan)擾則(ze)不(bu)論(lun)大(da)小,皆(jie)不(bu)會(hui)影響放(fang)電脈沖(chong)數(shu)值。若此時兩(liang)個(ge)時間(jian)窗(chuang)同時關(guan)閉(bi),則(ze)儀表讀數(shu)為整(zheng)個橢圓(yuan)上(shang)脈沖(chong)之(zhi)峰(feng)值。