簡述全(quan)自動(dong)介(jie)質(zhi)損耗測試(shi)儀(yi)的(de)常見(jian)故障(zhang)解決(jue)方(fang)法
點(dian)擊次(ci)數:1858 更新時間(jian):2023-04-24
全(quan)自(zi)動(dong)介(jie)質(zhi)損耗測試(shi)儀(yi)是(shi)壹種(zhong)用(yong)於測試(shi)電纜(lan)、電(dian)線(xian)、電(dian)氣設備等介(jie)質(zhi)損耗的(de)儀(yi)器,可(ke)以測量介(jie)質損耗因(yin)數(簡稱介(jie)損),以表示介質損耗的(de)大小。介(jie)損是(shi)衡(heng)量電纜、電(dian)線(xian)等介(jie)質(zhi)損耗的(de)指標,介質(zhi)損耗越(yue)小,介(jie)質損耗因(yin)數越大,電纜(lan)、電線(xian)等的(de)壽命(ming)也(ye)就越長(chang)。
全自動(dong)介(jie)質(zhi)損耗測試(shi)儀(yi)通常由電源(yuan)、控(kong)制器、測量系(xi)統(tong)和(he)顯(xian)示系統(tong)等組(zu)成(cheng)。電(dian)源(yuan)為儀(yi)器提(ti)供(gong)穩(wen)定的(de)電壓(ya)和(he)電流(liu),控(kong)制器控(kong)制整個(ge)測試(shi)過程(cheng),包(bao)括測量參(can)數的(de)設置、測量過(guo)程的(de)控(kong)制和(he)測量結(jie)果(guo)的(de)顯(xian)示等。測量系(xi)統(tong)由探(tan)頭(tou)、測量電(dian)路和(he)計算(suan)機組(zu)成,探(tan)頭(tou)接(jie)收(shou)被(bei)測介質(zhi)的(de)損耗信(xin)號,通過測量電(dian)路進行采集(ji)和(he)處(chu)理,計算(suan)機對測量結(jie)果(guo)進行分析(xi)和(he)處(chu)理,並將(jiang)結果(guo)顯(xian)示在顯(xian)示系統(tong)上(shang)。
下(xia)面(mian)咱(zan)們(men)來了解下(xia)全(quan)自(zi)動(dong)介(jie)質(zhi)損耗測試(shi)儀(yi)的(de)常見(jian)故障(zhang)解決(jue)方(fang)法:
1、無法(fa)開(kai)機(ji)或(huo)顯(xian)示屏不亮
可(ke)能原因(yin):供電(dian)故障(zhang)或(huo)者連(lian)接(jie)線(xian)路(lu)不良(liang)。
解決(jue)方(fang)案:首(shou)先檢(jian)查電源(yuan)插(cha)頭(tou)和(he)電源(yuan)線(xian)是(shi)否(fou)正(zheng)確連接(jie),如(ru)果(guo)沒(mei)有問(wen)題(ti),則可(ke)能是(shi)電(dian)源(yuan)故障(zhang)。可(ke)以更換(huan)電源(yuan)或(huo)者尋求(qiu)專業(ye)維(wei)修(xiu)人員(yuan)的(de)幫助(zhu)。
2、測試(shi)結果(guo)不準確或(huo)者不能(neng)測量
可(ke)能原因(yin):電極(ji)接(jie)觸(chu)不良(liang)、校(xiao)準不正(zheng)確或(huo)者設備老化等。
解決(jue)方(fang)案:檢(jian)查電極(ji)是(shi)否(fou)幹(gan)凈(jing)並且正(zheng)確安裝,重(zhong)新進行校(xiao)準操(cao)作(zuo),並保(bao)證(zheng)設備處(chu)於好(hao)的(de)工(gong)作(zuo)狀態。如(ru)果(guo)這(zhe)些(xie)方(fang)法都(dou)不奏(zou)效(xiao),那麽(me)就需要(yao)考(kao)慮(lv)更(geng)換(huan)新設備。
3、數據顯(xian)示異常或(huo)者存儲(chu)不正(zheng)常
可(ke)能原因(yin):程序(xu)錯誤、存儲(chu)器(qi)故障(zhang)或(huo)者操(cao)作(zuo)不當(dang)等。
解決(jue)方(fang)案:嘗(chang)試(shi)重(zhong)新啟(qi)動(dong)設備,如(ru)果(guo)依(yi)然(ran)存在問題(ti),就要(yao)檢(jian)查是(shi)否(fou)有程(cheng)序(xu)錯(cuo)誤(wu),或(huo)者存儲(chu)器(qi)是(shi)否(fou)需要(yao)更(geng)換(huan)。此外,還應該(gai)確認(ren)操(cao)作(zuo)是(shi)否(fou)符(fu)合設備說明(ming)書(shu)中的(de)要(yao)求(qiu)。
4、電磁幹(gan)擾
可(ke)能原因(yin):周(zhou)圍環境中存在大量電(dian)源(yuan)設備或(huo)者高(gao)頻(pin)設備。
解決(jue)方(fang)案:將(jiang)測試(shi)儀(yi)盡(jin)可(ke)能地(di)遠離(li)其(qi)他電(dian)源(yuan)設備和(he)高頻(pin)設備,增加屏蔽措(cuo)施以減少(shao)電(dian)磁幹(gan)擾。
總(zong)之(zhi),全自動(dong)介(jie)質(zhi)損耗測試(shi)儀(yi)是(shi)壹種(zhong)非(fei)常實(shi)用的(de)測試(shi)設備,但是(shi)在使用(yong)過(guo)程中(zhong)也(ye)會(hui)遇(yu)到各種(zhong)問(wen)題(ti)。如(ru)果(guo)出現(xian)故障(zhang),可(ke)以嘗試(shi)上(shang)述方(fang)法進行解決(jue),必要(yao)時(shi)還可(ke)以請(qing)專(zhuan)業(ye)人士進行維(wei)修(xiu)。