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手(shou)持(chi)式局部(bu)放電測(ce)試儀如(ru)何(he)才能抑制(zhi)幹擾
點(dian)擊次數：1904 更新時間：2022-07-22
手(shou)持(chi)式局部(bu)放電測(ce)試儀能很(hen)快(kuai)發現局放產生(sheng)的超(chao)聲(sheng)波，是狀(zhuang)態(tai)檢(jian)修(xiu)的好幫(bang)手(shou)。適(shi)用(yong)於(yu)主變(bian)及GIS的局部放(fang)電巡檢(jian)定位(wei)，也(ye)適(shi)用(yong)於(yu)絕(jue)緣子局(ju)部(bu)放電、電纜頭(tou)爬(pa)電、高(gao)壓開(kai)關櫃內(nei)部放(fang)電的發現並定位(wei)。
手(shou)持(chi)式局部(bu)放電測(ce)試儀需要註(zhu)意事(shi)項(xiang)：
局(ju)部放(fang)電產生(sheng)的檢(jian)測(ce)信號十分(fen)微弱(ruo)，僅(jin)為(wei)微(wei)伏量級，就(jiu)數值大(da)小而言(yan)，很(hen)容(rong)易(yi)被(bei)外界(jie)幹擾信號所(suo)淹沒(mei)，因此局部放(fang)電測(ce)試儀試驗(yan)中必(bi)須考慮抑制(zhi)幹擾信號的影(ying)響，采(cai)取有效的抗幹擾措施。
手(shou)持(chi)式局部(bu)放電測(ce)試儀試驗(yan)中對(dui)壹些幹(gan)擾的抑制(zhi)方(fang)法(fa)如(ru)下(xia)：
(1)手(shou)持(chi)式局部(bu)放電測(ce)試儀來自電源(yuan)的幹擾可以在(zai)電源(yuan)中用(yong)濾(lv)波器加(jia)以抑制(zhi)。這種濾(lv)波器應(ying)能抑制(zhi)處於(yu)檢(jian)測(ce)儀的頻寬(kuan)的所有頻率(lv)，但(dan)能讓低頻率(lv)試驗(yan)電壓(ya)通過(guo)。
(2)手(shou)持(chi)式局部(bu)放電測(ce)試儀來自接(jie)地(di)系統的幹擾，可以通(tong)過(guo)單獨的連(lian)接，把試驗(yan)電路(lu)接(jie)到適(shi)當(dang)的接地(di)點(dian)來消(xiao)除。所(suo)有附(fu)近(jin)的接地(di)金屬(shu)均應(ying)接地(di)良好，不能(neng)產生(sheng)電位(wei)的浮動。
(3)手(shou)持(chi)式局部(bu)放電測(ce)試儀來自外(wai)部的幹擾源，如(ru)高(gao)壓試驗(yan)、附(fu)近(jin)的開關操(cao)作、無(wu)線電發射等引(yin)起的靜電或磁感(gan)應(ying)及電磁(ci)輻射，均能(neng)被放(fang)電試驗(yan)線路(lu)耦(ou)合引入(ru)，並(bing)誤(wu)認(ren)為(wei)是(shi)放電脈(mai)沖(chong)。如(ru)果這些幹(gan)擾信號源(yuan)不能(neng)被(bei)消(xiao)除，就(jiu)要對(dui)試驗(yan)線路(lu)進(jin)行處(chu)理，使(shi)其表(biao)面(mian)光(guang)潔度好，曲率(lv)半(ban)徑(jing)大(da)，並(bing)加(jia)以屏(ping)蔽(bi)。需要(yao)有壹個設計(ji)良好的薄金屬(shu)皮、金(jin)屬(shu)板或鐵絲(si)鋼的屏蔽。有時樣品的金屬(shu)外殼(ke)要用作屏蔽(bi)。有條件(jian)的可修(xiu)建屏蔽試驗(yan)室。
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