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科(ke)普(pu)壹(yi)下手持式(shi)局(ju)部(bu)放電(dian)測(ce)試儀(yi)的那(na)些(xie)名詞(ci)含義(yi)，妳知道(dao)多(duo)少？
點(dian)擊(ji)次(ci)數(shu)：3680 更新時間(jian)：2020-12-25
手(shou)持式(shi)局(ju)部(bu)放電(dian)測(ce)試儀(yi)采(cai)用(yong)先(xian)進的抗幹擾(rao)組件和(he)*的門顯(xian)示(shi)電(dian)路，並具有四(si)種(zhong)高(gao)頻(pin)橢圓掃(sao)描，適(shi)用於高(gao)壓(ya)產品的型式(shi)、出廠試驗(yan)，新產品研(yan)制(zhi)試驗(yan)，電(dian)機、互(hu)感(gan)器(qi)、電(dian)纜、套(tao)管、電(dian)容(rong)器(qi)、變壓(ya)器(qi)、避(bi)雷器(qi)、開(kai)關(guan)及其它(ta)高壓(ya)電(dian)器(qi)局(ju)部(bu)放電(dian)的定(ding)量(liang)測(ce)試。可(ke)供(gong)制造(zao)廠、科(ke)研部門、電(dian)力(li)部門(men)現(xian)場(chang)使用(yong)
1、手持式(shi)局(ju)部(bu)放電(dian)測(ce)試儀(yi)的理(li)論(lun)分析
局(ju)部(bu)放電(dian)測(ce)量(liang)方(fang)法(fa)分為電(dian)測(ce)法(fa)和(he)非電(dian)測(ce)法(fa)兩(liang)大(da)類。電(dian)測(ce)法(fa)應(ying)用(yong)較多的是(shi)脈沖電(dian)流法(fa)和無線(xian)電(dian)幹(gan)擾(rao)電(dian)壓(ya)法。電(dian)測(ce)法(fa)已廣(guang)泛用(yong)於(yu)局(ju)部(bu)放電(dian)的定(ding)量(liang)測(ce)量(liang)。
脈沖電(dian)流法(fa)的測(ce)試原理(li)是(shi)試品產(chan)生(sheng)壹(yi)次局(ju)部(bu)放電(dian)，在其兩端就(jiu)會產生(sheng)壹(yi)個瞬時的電(dian)壓(ya)變化(hua)，此(ci)時在被試品、耦(ou)合(he)電(dian)容(rong)和檢測(ce)阻抗組成的回路中產(chan)生(sheng)壹(yi)脈沖電(dian)流。脈沖電(dian)流經過(guo)檢(jian)測(ce)阻抗會在其兩端產(chan)生(sheng)壹(yi)脈沖電(dian)壓(ya)，將此(ci)脈沖電(dian)壓(ya)進行(xing)采(cai)集(ji)、放大、顯(xian)示(shi)等處(chu)理(li)，就(jiu)可(ke)產生(sheng)局(ju)部(bu)放電(dian)的壹(yi)些基(ji)本量，尤其(qi)是(shi)局(ju)部(bu)放電(dian)量(liang)。
2、手持式(shi)局(ju)部(bu)放電(dian)測(ce)試儀(yi)常(chang)用(yong)的名詞(ci)術語
（1）局(ju)部(bu)放電(dian)
局(ju)部(bu)放電(dian)是(shi)指在絕緣的局(ju)部(bu)位置放電(dian)，它(ta)並不構成(cheng)整個絕(jue)緣的貫(guan)通(tong)性擊(ji)穿(chuan)。它(ta)包(bao)含三(san)種放電(dian)形(xing)式(shi)：內部放電(dian)（在介質內部）、沿(yan)面(mian)放電(dian)（在介質表面(mian)）、電(dian)暈(yun)放電(dian)（在電(dian)極(ji)）。
（2）電(dian)荷(he)量(liang)q
在試品兩(liang)端瞬時註(zhu)入(ru)壹(yi)定(ding)電(dian)荷(he)量(liang)，使(shi)試品端電(dian)壓(ya)的變化(hua)和由局(ju)部(bu)放電(dian)本(ben)身引起的端電(dian)壓(ya)的變化(hua)相同，此(ci)註(zhu)入(ru)量(liang)即為局(ju)部(bu)放電(dian)的視在電(dian)荷(he)量(liang)。
（3）視(shi)在放電(dian)量(liang)校準器(qi)
視(shi)在放電(dian)量(liang)校準器(qi)是(shi)壹(yi)標準電(dian)量(liang)發生(sheng)器(qi)，試驗(yan)前(qian)它以(yi)輸出某(mou)固(gu)定(ding)電(dian)量(liang)加之試品兩(liang)端，模(mo)擬(ni)該(gai)試品在此(ci)電(dian)量(liang)下放電(dian)時局(ju)部(bu)放電(dian)測(ce)試儀(yi)的響應，此(ci)時調(tiao)整刻度(du)系(xi)數(shu)，確(que)定(ding)局(ju)部(bu)放電(dian)檢(jian)測(ce)儀(yi)的量程，以(yi)便在試驗(yan)時測(ce)量(liang)該(gai)試品在額(e)定(ding)電(dian)壓(ya)下的視在放電(dian)量(liang)。因該(gai)放電(dian)量(liang)時以(yi)標準電(dian)量(liang)發生(sheng)器(qi)比(bi)較後(hou)間(jian)接測(ce)出(chu)，而(er)非直接測(ce)出(chu)，故(gu)此(ci)放電(dian)量(liang)稱為“視在放電(dian)量(liang)”。
校正電(dian)量(liang)發生(sheng)器(qi)是(shi)測(ce)量(liang)局(ju)部(bu)放電(dian)時*的儀(yi)器(qi)，它(ta)的性能參(can)數(shu)直接關(guan)系(xi)到(dao)測(ce)試結(jie)果(guo)的準確(que)性。
視在放電(dian)量(liang)校準器(qi)由(you)校準脈沖電(dian)壓(ya)發生(sheng)器(qi)和(he)校準電(dian)容(rong)串(chuan)聯(lian)組成，其參數(shu)主(zhu)要包括(kuo)：脈沖波(bo)形(xing)上升(sheng)時間(jian)、衰(shuai)減(jian)時間(jian)、內(nei)阻、脈沖峰(feng)值、校(xiao)準電(dian)容(rong)值等。
校(xiao)準脈沖電(dian)壓(ya)發生(sheng)器(qi)電(dian)壓(ya)波(bo)形(xing)上升(sheng)時間(jian)為從(cong)0.1U0到0.9U0的時間(jian)，衰(shuai)減(jian)時間(jian)定(ding)義(yi)為從(cong)峰(feng)值下降到0.1U0的時間(jian)。
（4）檢(jian)測(ce)阻抗
檢測(ce)阻抗是(shi)拾取檢(jian)測(ce)信(xin)號(hao)的裝置(zhi)，在使用中，應根(gen)據不同(tong)的測(ce)試目(mu)的，被試品的種類來(lai)選擇合(he)適(shi)的檢測(ce)阻抗，以(yi)提(ti)高局(ju)部(bu)放電(dian)測(ce)量(liang)的靈(ling)敏度(du)、分辨(bian)能力(li)、波(bo)形(xing)特性及信(xin)噪比。
（5）時間(jian)窗(chuang)(門單元)
時間(jian)窗(chuang)是(shi)為防(fang)止大(da)於(yu)局(ju)部(bu)放電(dian)的幹擾(rao)信號(hao)進入(ru)峰(feng)值檢(jian)波(bo)電(dian)路而設(she)計的壹(yi)種電(dian)路裝置(zhi)。因(yin)在實際試驗(yan)時，尤其(qi)是(shi)在現場做試驗(yan)時，不(bu)可(ke)避(bi)免(mian)地會引入(ru)壹(yi)些幹擾(rao)，所以(yi)，時間(jian)窗(chuang)的使用更顯(xian)得重(zhong)要。
時間(jian)窗(chuang)的工(gong)作原理(li)是(shi)把橢圓掃(sao)描時基(ji)分成導通(tong)(加亮(liang)區域(yu))和截止(未加亮(liang)區域(yu))兩部分,通過改(gai)變時間(jian)窗(chuang)的位置和(he)寬(kuan)度(du)將放電(dian)脈沖置(zhi)於(yu)導通(tong)(加亮(liang)區域(yu))，幹擾(rao)脈沖置(zhi)於(yu)截止(zhi)(未加亮(liang)區域(yu))，此(ci)時儀(yi)表(biao)讀數(shu)即為放電(dian)脈沖數(shu)值，而(er)幹擾(rao)則不(bu)論(lun)大小(xiao)，皆不(bu)會影響(xiang)放電(dian)脈沖數(shu)值。若此(ci)時兩(liang)個(ge)時間(jian)窗(chuang)同時關(guan)閉，則儀(yi)表(biao)讀數(shu)為整個橢圓上脈沖之(zhi)峰(feng)值。
