產(chan)品目(mu)錄(lu)
Product Catalog
如何(he)使(shi)用電(dian)纜(lan)故(gu)障智能(neng)測試(shi)儀判(pan)斷(duan)電(dian)纜(lan)故(gu)障性(xing)質(zhi)？
點擊(ji)次數(shu)：3320 更新(xin)時(shi)間(jian)：2020-11-11
電(dian)纜(lan)故(gu)障智能(neng)測試(shi)儀於(yu)電(dian)力(li)電(dian)纜(lan)的故(gu)障測試(shi)，是壹(yi)套集成(cheng)化設備(bei)，包括兩臺(tai)儀器(qi)及(ji)相(xiang)關(guan)附(fu)件(jian)(主(zhu)動(dong)降噪(zao)耳(er)機，增(zeng)強(qiang)型探頭等(deng))；便攜式電纜(lan)故(gu)障綜合(he)測試(shi)儀相(xiang)對於(yu)傳(chuan)統的分(fen)體(ti)設(she)備，其(qi)設備(bei)件(jian)數、體(ti)積(ji)、重(zhong)量均(jun)大幅(fu)縮減(jian)，且功能(neng)強(qiang)大(da)、簡單(dan)易用、小巧便攜(xie)，是傳(chuan)統設備(bei)的換(huan)代產品。
電(dian)纜(lan)故(gu)障智能(neng)測試(shi)儀電(dian)纜(lan)故(gu)障性(xing)質(zhi)分(fen)析：
開路(lu)故(gu)障：如果(guo)電纜(lan)絕緣正常，但(dan)因導(dao)體(ti)原(yuan)因(yin)不能(neng)正常輸(shu)送(song)電(dian)壓的壹(yi)類(lei)故(gu)障可認為是(shi)開路(lu)故(gu)障，如芯(xin)線(xian)或(huo)地(di)線(xian)似(si)斷(duan)非斷、芯(xin)線(xian)某(mou)壹(yi)處存在(zai)較(jiao)大的線(xian)電(dian)阻(zu)及(ji)斷(duan)芯等(deng)情況。壹般單(dan)純性(xing)開路(lu)故(gu)障很少(shao)見到(dao)，多(duo)數(shu)表(biao)現為(wei)與(yu)低(di)阻(zu)或(huo)高(gao)阻(zu)故(gu)障並存。
低(di)阻(zu)故(gu)障：如果(guo)電纜(lan)的絕緣介質(zhi)損傷(shang)，能直(zhi)接(jie)用“低(di)壓脈沖(chong)法(fa)”測試(shi)的壹(yi)類(lei)相(xiang)間(jian)或(huo)相(xiang)對地(di)故(gu)障，稱之(zhi)為泄(xie)漏(lou)性(xing)低(di)阻(zu)故(gu)障。通(tong)常叫做(zuo)低(di)阻(zu)故(gu)障。壹般電(dian)阻(zu)值在(zai)數(shu)百歐(ou)姆(mu)以下(xia)。若(ruo)電阻(zu)值為“零(ling)”，則(ze)稱(cheng)為(wei)短路故(gu)障，它(ta)是(shi)低阻(zu)故(gu)障的特(te)例。
泄漏(lou)性(xing)高(gao)阻(zu)故(gu)障：若電(dian)纜(lan)的絕緣介質(zhi)已(yi)損壞(huai)，並形(xing)成(cheng)固(gu)定的電(dian)阻(zu)通(tong)道，但(dan)不能(neng)直(zhi)接(jie)用電(dian)纜(lan)故(gu)障測試(shi)儀器(qi)的“低(di)壓脈沖(chong)法(fa)”測量的壹(yi)類(lei)故(gu)障，稱為(wei)泄漏(lou)性(xing)高(gao)阻(zu)故(gu)障，阻(zu)值通(tong)常在(zai)數(shu)百歐(ou)姆(mu)以上。在(zai)現(xian)場當(dang)給電(dian)纜(lan)做(zuo)直(zhi)流(liu)泄(xie)漏(lou)耐(nai)壓試驗時(shi)，其(qi)泄漏(lou)電(dian)流(liu)值隨著所加(jia)的直(zhi)流(liu)電(dian)壓的升(sheng)高而(er)連續(xu)增(zeng)大，並遠遠(yuan)超(chao)過電(dian)纜(lan)本(ben)身(shen)所要求的規範值。泄漏(lou)性(xing)高(gao)阻(zu)故(gu)障與(yu)低(di)阻(zu)故(gu)障是相(xiang)對的，無(wu)嚴(yan)格(ge)區別。
閃絡(luo)性(xing)高(gao)阻(zu)故(gu)障：在(zai)電(dian)纜(lan)的預(yu)試電(dian)壓範圍內(nei)，當(dang)電纜(lan)的預(yu)試電(dian)壓加(jia)到(dao)某壹(yi)數值時，電纜(lan)的泄(xie)漏(lou)電(dian)流(liu)值突然增大(da)，其(qi)值大大超(chao)過被(bei)試電(dian)纜(lan)所要求的規範值，這種(zhong)類(lei)型的故(gu)障稱為(wei)閃絡(luo)性(xing)高(gao)阻(zu)故(gu)障。這種(zhong)故(gu)障點其電纜(lan)絕緣雖然(ran)損壞(huai)，但(dan)卻沒有形(xing)成(cheng)固(gu)定的電(dian)阻(zu)通(tong)道。
上壹(yi)篇(pian) : 詳細(xi)分(fen)析抗(kang)幹擾(rao)介(jie)質(zhi)損耗(hao)測試儀的工(gong)作(zuo)原(yuan)理(li)，原(yuan)來(lai)如此(ci)！ 下(xia)壹(yi)篇(pian) : 盤點變頻介質損耗(hao)測試儀的4大(da)功能(neng)特(te)性(xing)
