局部放(fang)電測試儀采(cai)用(yong)先(xian)進(jin)的(de)抗幹擾組件(jian)和(he)*的(de)門顯(xian)示(shi)電路(lu)，並(bing)具(ju)有(you)四(si)種(zhong)高(gao)頻(pin)橢(tuo)圓(yuan)掃(sao)描(miao)，適(shi)用(yong)於(yu)高(gao)壓(ya)產品的(de)型式、出廠試驗，新產品研(yan)制(zhi)試驗，電機(ji)、互感器(qi)、電纜(lan)、套(tao)管、電容器(qi)、變壓(ya)器(qi)、避(bi)雷器(qi)、開(kai)關及(ji)其它(ta)高壓(ya)電器(qi)局部放(fang)電的(de)定(ding)量測試。可供(gong)制(zhi)造廠、科(ke)研(yan)部(bu)門、電力(li)部門現場使(shi)用(yong)。

　　局部放(fang)電測量儀(yi)常(chang)用(yong)的(de)名詞(ci)術(shu)語(yu)

　　(1)局部放(fang)電

　　局部放(fang)電是指在絕(jue)緣(yuan)的(de)局部位(wei)置放(fang)電，它(ta)並(bing)不(bu)構(gou)成整個絕緣(yuan)的(de)貫通(tong)性擊穿(chuan)。它包含(han)三種放(fang)電形(xing)式:內部(bu)放(fang)電(在介(jie)質(zhi)內(nei)部)、沿(yan)面(mian)放(fang)電(在介(jie)質(zhi)表面(mian))、電暈(yun)放(fang)電(在電極(ji))。

　　(2)電荷(he)量q

　　在試品兩端瞬時(shi)註入壹(yi)定(ding)電荷(he)量，使(shi)試品端電壓(ya)的(de)變化和(he)由局部放(fang)電本(ben)身(shen)引起(qi)的(de)端電壓(ya)的(de)變化相(xiang)同(tong)，此(ci)註(zhu)入量即為(wei)局部放(fang)電的(de)視在電荷(he)量。

　　(3)視在放(fang)電量校準器(qi)

　　視在放(fang)電量校準器(qi)是壹(yi)標(biao)準電量發生(sheng)器(qi)，局部放(fang)電測試儀試驗前(qian)它(ta)以(yi)輸(shu)出(chu)某固(gu)定(ding)電量加(jia)之試品兩端，模擬(ni)該(gai)試品在此(ci)電量下放(fang)電時(shi)局部放(fang)電測試儀的(de)響應(ying)，此(ci)時(shi)調(tiao)整(zheng)刻度(du)系數，確定(ding)局部放(fang)電檢(jian)測儀的(de)量程(cheng)，以(yi)便在試驗時(shi)測量該(gai)試品在額定(ding)電壓(ya)下的(de)視在放(fang)電量。因(yin)該(gai)放(fang)電量時(shi)以(yi)標(biao)準電量發生(sheng)器(qi)比較(jiao)後(hou)間接測出，而非(fei)直(zhi)接測出，故此放(fang)電量稱(cheng)為(wei)"視在放(fang)電量"。

　　校正(zheng)電量發生(sheng)器(qi)是測量局部放(fang)電時(shi)*的(de)儀器(qi)，它的(de)性能(neng)參(can)數直(zhi)接關系到(dao)測試結(jie)果(guo)的(de)準確性。

　　視在放(fang)電量校準器(qi)由校準脈沖(chong)電壓(ya)發生(sheng)器(qi)和(he)校準電容串(chuan)聯組成，其參(can)數主(zhu)要(yao)包括:脈(mai)沖(chong)波(bo)形(xing)上升時(shi)間、衰減(jian)時(shi)間、內阻(zu)、脈沖(chong)峰值(zhi)、校準電容值(zhi)等。

　　校準脈沖(chong)電壓(ya)發生(sheng)器(qi)電壓(ya)波(bo)形(xing)上升時(shi)間為從(cong)0.1U0到(dao)0.9U0的(de)時(shi)間，衰減(jian)時(shi)間定(ding)義(yi)為從峰值(zhi)下降(jiang)到(dao)0.1U0的(de)時(shi)間。

　　(4)檢(jian)測阻(zu)抗

　　檢(jian)測阻(zu)抗是拾取(qu)檢(jian)測信號的(de)裝置，在使(shi)用(yong)中(zhong)，應(ying)根(gen)據不同(tong)的(de)測試目的(de)，被試品的(de)種類(lei)來選(xuan)擇(ze)合(he)適(shi)的(de)檢(jian)測阻(zu)抗，以(yi)提(ti)高局部放(fang)電測量的(de)靈(ling)敏度、分辨(bian)能(neng)力(li)、波(bo)形(xing)特性及(ji)信噪(zao)比。

　　(5)時(shi)間窗(門(men)單元)

　　時(shi)間窗是為防(fang)止大於(yu)局部放(fang)電的(de)幹擾信號進(jin)入峰(feng)值(zhi)檢(jian)波(bo)電路(lu)而設計(ji)的(de)壹(yi)種電路(lu)裝置。因(yin)在實(shi)際(ji)試驗時(shi)，尤其是在現(xian)場(chang)做試驗時(shi)，不可避(bi)免地會(hui)引入壹(yi)些幹擾，所(suo)以(yi)，時(shi)間窗的(de)使(shi)用(yong)更顯(xian)得(de)重(zhong)要(yao)。

　　時(shi)間窗的(de)工作(zuo)原理是把橢(tuo)圓(yuan)掃(sao)描(miao)時(shi)基分成導(dao)通(加(jia)亮(liang)區域(yu))和(he)截止(未加(jia)亮(liang)區域(yu))兩部(bu)分,通(tong)過(guo)改(gai)變(bian)時(shi)間窗的(de)位置和(he)寬(kuan)度(du)將放(fang)電脈(mai)沖(chong)置於(yu)導(dao)通(加(jia)亮(liang)區域(yu))，幹擾脈(mai)沖(chong)置於(yu)截止(未加(jia)亮(liang)區域(yu))，此時(shi)儀表讀數即為(wei)放(fang)電脈(mai)沖(chong)數值，而幹擾則不論(lun)大小(xiao)，皆(jie)不會影(ying)響放(fang)電脈(mai)沖(chong)數值。若此(ci)時(shi)兩個時(shi)間窗同(tong)時(shi)關閉(bi)，則局部放(fang)電測試儀讀數為整(zheng)個橢(tuo)圓(yuan)上(shang)脈(mai)沖(chong)之峰(feng)值(zhi)。