抗幹擾(rao)介(jie)質損(sun)耗(hao)測(ce)試儀(yi)是壹種先(xian)進(jin)的(de)測(ce)量介(jie)質損(sun)耗(hao)(tgδ)和(he)電容器容量(Cx)的(de)儀(yi)器，用於(yu)工(gong)頻高壓(ya)下(xia)，測(ce)量各(ge)種(zhong)絕(jue)緣(yuan)材(cai)料、絕(jue)緣(yuan)套管、電力電纜、電容器、互(hu)感器、變壓器(qi)等(deng)高壓(ya)設備的(de)介質損(sun)耗(hao)，(tgδ)和(he)電容器容量(Cx)它(ta)淘(tao)汰(tai)了 QS 高壓(ya)電橋(qiao)。具(ju)有(you)操(cao)作簡(jian)單、中文顯(xian)示(shi)、打(da)印、使用方(fang)便(bian)、無需換算、自帶(dai)高壓(ya)、抗幹(gan)擾(rao)能(neng)力(li)強、測(ce)試時(shi)間(jian)(在國內同類產(chan)品中(zhong)速度(du)快)體積(ji)小、重量輕(qing)等(deng)特(te)點(dian)。

　　儀(yi)器測(ce)量線(xian)路(lu)包(bao)括(kuo)壹路標準(zhun)回路(lu)和(he)壹路測(ce)試回路(lu)。

　　標準(zhun)回路(lu)由(you)內置高穩(wen)定度標準(zhun)電容器與標準(zhun)電阻(zu)網(wang)絡(luo)組成，由(you)計(ji)算機實時(shi)采(cai)集標準(zhun)回路(lu)電流(liu)與測(ce)試回路(lu)的(de)電流(liu)幅(fu)值及其相位差，並由(you)之(zhi)算出被測(ce)試品(pin)的(de)電容容值（Cx）和(he)其(qi)介質損(sun)耗(hao)（tgδ）。

　　MS-110D 抗(kang)幹擾介質損(sun)耗(hao)測(ce)試儀(yi)采用變頻電源技(ji)術(shu)，利用單片(pian)機和(he)電子技(ji)術(shu)進行(xing)自動頻率變換、模/數(shu)轉(zhuan)換和(he)數(shu)據運(yun)算，達到抗(kang)幹(gan)擾能(neng)力(li)強、測(ce)試速(su)度(du)快、精(jing)度(du)高、操(cao)作簡(jian)便的(de)功(gong)能(neng)。

　　抗(kang)幹擾介質損(sun)耗(hao)測(ce)試儀(yi)變頻電源采(cai)用大功(gong)率開(kai)關電源，輸(shu)出45Hz和(he)55Hz純正弦波(bo)，自(zi)動加壓(ya)，可提(ti)供高10kV的(de)電壓；自動濾除50Hz幹擾，適用於(yu)變電站等(deng)電磁幹擾大的(de)現場(chang)測(ce)試。

　　安(an)全措(cuo)施(shi)

　　(1)高壓(ya)保護(hu):試品(pin)短(duan)路、擊(ji)穿(chuan)或(huo)高壓(ya)電流(liu)波(bo)動，能(neng)迅(xun)速(su)切斷(duan)高壓(ya)輸出。

　　(2)CVT保(bao)護(hu):設定自(zi)激(ji)電壓的(de)過(guo)流(liu)點(dian)，壹旦超(chao)出設置的(de)電流(liu)值，儀(yi)器自(zi)動退出測(ce)量，不(bu)會(hui)損(sun)壞(huai)設備。

　　(3)接(jie)地(di)檢測(ce):儀(yi)器有(you)接(jie)地(di)檢測(ce)功(gong)能(neng)，未(wei)接(jie)地(di)時(shi)不(bu)能(neng)升(sheng)壓(ya)測(ce)量。

　　(4)防誤(wu)操(cao)作:具(ju)備防誤(wu)操(cao)作設計，能(neng)判別常(chang)見接(jie)線(xian)錯誤(wu)，安(an)全報警(jing)。

　　(5)抗(kang)幹(gan)擾介質損(sun)耗(hao)測(ce)試儀(yi)防"容(rong)升(sheng)":測(ce)量大(da)容(rong)量試品(pin)時(shi)會(hui)出現(xian)電壓擡高的(de)"容升(sheng)"效應，儀(yi)器能(neng)自(zi)動跟(gen)蹤(zong)輸出電壓，保持(chi)試驗電壓恒(heng)定。