試(shi)驗回(hui)路的(de)Q值(zhi)主要(yao)是由(you)電抗(kang)器的(de)特性決定的(de)。在(zai)實(shi)際工作(zuo)中(zhong)發現(xian)，10kV變(bian)頻(pin)諧(xie)振試(shi)驗裝置(zhi)在(zai)實(shi)際使(shi)用(yong)中(zhong)的(de)Q值(zhi)往往比(bi)廠家(jia)提供(gong)的(de)Q值(zhi)大。而(er)35kV及以上(shang)電壓等(deng)級的(de)變(bian)頻(pin)諧(xie)振試(shi)驗裝置(zhi)在(zai)實(shi)際使(shi)用(yong)中(zhong)的(de)Q值(zhi)往往會比(bi)廠家(jia)提供(gong)的(de)Q值(zhi)小(xiao)，天氣(qi)惡(e)劣(lie)時會小(xiao)很多，隨(sui)著試驗時間(jian)的(de)增加(jia)Q值(zhi)呈(cheng)下(xia)降(jiang)趨(qu)勢。從(cong)而(er)導致(zhi)按照(zhao)廠家(jia)提供(gong)的(de)Q值(zhi)選擇的(de)電源容(rong)量達不(bu)到現(xian)場(chang)試(shi)驗的(de)要求(qiu)，zui嚴(yan)重(zhong)的(de)是電壓達不(bu)到試(shi)驗所要(yao)求(qiu)的(de)耐壓值(zhi)。

通(tong)過(guo)分(fen)析(xi)，不(bu)難發現(xian)，在(zai)參(can)數計(ji)算(suan)中(zhong)，試(shi)品(pin)的(de)電容(rong)量、回(hui)路的(de)電感(gan)量都(dou)是定值(zhi)，但(dan)其中(zhong)的(de)Q值(zhi)由(you)於(yu)現(xian)場(chang)的(de)幹擾、接(jie)線(xian)布置(zhi)、天氣(qi)影(ying)響(xiang)、電抗(kang)器特性、擺(bai)放位(wei)置(zhi)等各(ge)種(zhong)不(bu)定因素的(de)不(bu)同而(er)發生(sheng)改變(bian)。

10kV電纜(lan)系統(tong)試(shi)驗多在(zai)開關櫃(gui)、環(huan)網(wang)箱(xiang)處(chu)進行，高壓引(yin)線(xian)不(bu)長，引線(xian)對(dui)Q值(zhi)的(de)影響(xiang)大大降低(di);由(you)於(yu)開(kai)關櫃(gui)的(de)間(jian)隔(ge)緊(jin)湊(cou)，空間(jian)小(xiao)，使(shi)用(yong)高質(zhi)量的(de)粗絕緣線(xian)，因此(ci)損耗(hao)下(xia)降，Q值(zhi)比(bi)廠家(jia)提供(gong)的(de)數值(zhi)要(yao)高。

對(dui)於(yu)35kV及(ji)以上(shang)電壓等(deng)級的(de)變(bian)頻(pin)諧(xie)振試(shi)驗裝置(zhi)在(zai)實(shi)際使(shi)用(yong)中(zhong)的(de)Q值(zhi)往往會廠家(jia)提供(gong)的(de)Q值(zhi)小(xiao)的(de)情(qing)況，分析(xi)如(ru)下：

（1）高壓引(yin)線(xian)的(de)影響(xiang)

單(dan)項電氣(qi)設(she)備(bei)進行交(jiao)流(liu)耐壓試(shi)驗時，由(you)於(yu)試(shi)品電容(rong)量小(xiao)，高壓引(yin)線(xian)對(dui)試驗的(de)影響(xiang)不(bu)大。戶外(wai)配電裝(zhuang)置(zhi)整體(ti)進行交(jiao)流(liu)耐壓試(shi)驗時，設(she)備(bei)的(de)安(an)裝(zhuang)高度隨電壓等(deng)級增(zeng)加(jia)，電壓等(deng)級越高，高壓引(yin)線(xian)越長。壹(yi)般高壓引(yin)線(xian)較長，電暈(yun)損耗(hao)增(zeng)強，回(hui)路中(zhong)等(deng)效電阻(zu)增大。它形(xing)成(cheng)的(de)雜散電容(rong)並聯(lian)在(zai)被測(ce)電容(rong)上(shang)，回(hui)路諧(xie)振頻(pin)率(lv)下降，使(shi)得(de)Q值(zhi)下(xia)降(jiang);同時周(zhou)圍電磁(ci)場的(de)幹擾也(ye)增(zeng)大，使(shi)得(de)Q值(zhi)下(xia)降(jiang)。因此(ci)，在(zai)進行高電壓等(deng)級電氣(qi)設(she)備(bei)交流(liu)耐壓試(shi)驗時，盡(jin)量采用(yong)波(bo)紋管高壓引(yin)線(xian)。

（2）天氣(qi)的(de)影響(xiang)

①濕(shi)度(du)高的(de)情(qing)況下，引線(xian)電暈(yun)損耗(hao)大大增加(jia)，同時周(zhou)圍電磁(ci)場的(de)幹擾也(ye)增(zeng)大，使(shi)得(de)Q值(zhi)下(xia)降(jiang)。
②溫度(du)高的(de)情(qing)況下，回(hui)路等(deng)效電阻(zu)大大增加(jia)，使(shi)得(de)Q值(zhi)下(xia)降(jiang)。

（3）試(shi)驗時間(jian)的(de)影響(xiang)

隨(sui)著試驗時間(jian)的(de)延長，設(she)備(bei)受熱，等(deng)效電阻(zu)增大，Q值(zhi)也(ye)呈(cheng)下(xia)降(jiang)趨(qu)勢。在(zai)大暑(shu)天這種現(xian)象(xiang)十(shi)分顯(xian)著(zhu)。往往設(she)備(bei)需(xu)要(yao)體(ti)息30分鐘才能繼(ji)續使(shi)用(yong)。

（4）電抗(kang)器的(de)影響(xiang)

電抗(kang)器壹(yi)般要(yao)求(qiu)是(shi)無損(sun)耗(hao)電抗(kang)器，若是(shi)工(gong)藝不(bu)佳，往往損(sun)耗(hao)較大。另外，電抗(kang)器放置(zhi)在(zai)鐵(tie)板(ban)等(deng)金屬部(bu)件(jian)上(shang)時，形成(cheng)了(le)渦流損(sun)耗(hao)，等(deng)效電阻(zu)增大。

（5）高電壓試(shi)驗頻(pin)率(lv)不(bu)選合(he)適(shi)諧(xie)振點對(dui)Q值(zhi)的(de)影響(xiang)

在(zai)應用(yong)中(zhong)，發現(xian)當(dang)電壓升到接(jie)近試(shi)驗電壓時，電壓上(shang)升速度(du)太(tai)快並伴有(you)較大的(de)電壓波(bo)動(dong)，甚(shen)至能導致(zhi)電壓保(bao)護動(dong)作(zuo)，使(shi)試(shi)驗必須重(zhong)新開始(shi)，這對(dui)設(she)備(bei)安(an)全(quan)是不(bu)利(li)的(de)。但(dan)如果電壓保(bao)護值(zhi)設(she)定過大，就不(bu)能很好(hao)的(de)起到保(bao)護被試(shi)設(she)備(bei)免受過電壓的(de)作(zuo)用(yong)。因此(ci)，壹(yi)般在(zai)2%試驗電壓下(xia)調到合(he)適(shi)諧(xie)振頻(pin)率(lv)，之(zhi)後在(zai)不(bu)超過40%試(shi)驗電壓情(qing)況下再(zai)調(tiao)整(zheng)壹(yi)下頻(pin)率(lv)，且稍稍偏(pian)小壹(yi)點，避(bi)免(mian)出現(xian)上(shang)述(shu)現(xian)象(xiang)。

綜上(shang)所述(shu)，在(zai)進行交(jiao)流(liu)耐壓試(shi)驗時除了(le)依靠(kao)電抗(kang)器良好(hao)的(de)性能外，還(hai)要采取(qu)各(ge)種(zhong)好(hao)的(de)均(jun)壓措(cuo)施(shi)和合(he)理(li)的(de)選擇導(dao)線(xian)、合(he)理(li)的(de)布置(zhi)試驗現(xian)場(chang)、合(he)理(li)安(an)排(pai)時間(jian)等(deng)盡(jin)量提(ti)高Q值(zhi)，並且采取(qu)散熱等(deng)措(cuo)施(shi)減少(shao)設(she)備(bei)受熱對(dui)Q值(zhi)的(de)影響(xiang)。另外，在(zai)廠家(jia)提供(gong)的(de)Q值(zhi)的(de)基(ji)礎(chu)上(shang)配合(he)現(xian)場(chang)接(jie)線(xian)布置(zhi)情(qing)況適當(dang)修(xiu)正(zheng)，放大裕度(du)（如(ru)高壓引(yin)線(xian)較長就適(shi)當(dang)下(xia)降Q值(zhi)），所計(ji)算下的(de)電源容(rong)量就(jiu)可(ke)以滿(man)足試(shi)驗所需(xu)的(de)要求(qiu)。