根(gen)據理論分析得(de)知，TEV有可(ke)能(neng)是由(you)於(yu)局部(bu)放(fang)電(dian)引(yin)起(qi)的(de)電(dian)磁波(bo)從(cong)開關(guan)櫃不(bu)連續(xu)處泄露而(er)形(xing)成。為了驗(yan)證其理論的正(zheng)確性，首先對無縫情況(kuang)時的(de)TEV傳(chuan)播過(guo)程(cheng)進行(xing)了仿(fang)真(zhen)，其(qi)結果如(ru)圖所示。

上圖中(zhong)所(suo)示為無縫情況(kuang)下TE號(hao)在(zai)開關(guan)櫃(gui)內的(de)傳播(bo)過(guo)程(cheng)，TE號以(yi)放(fang)電(dian)源(yuan)為中(zhong)心向(xiang)四(si)周輻(fu)射，明(ming)顯(xian)穿透(tou)了開(kai)關櫃金屬外(wai)殼，不(bu)過(guo)理論上金屬(shu)對電(dian)磁信號有(you)很強的屏蔽(bi)作用，為了得(de)知電磁(ci)信號是否被屏蔽(bi)，通(tong)過(guo)檢測(ce)探(tan)針在開(kai)關櫃模(mo)型(xing)金(jin)屬(shu)殼外(wai)表面(mian)測(ce)量(liang)到的信號強度如(ru)下(xia)圖所示。

無縫時的TE號仿(fang)真(zhen)結果zui大值(zhi)為(wei)6e-9Vfmm，接(jie)近於(yu)0，由(you)此可(ke)見(jian)，開(kai)關(guan)櫃(gui)殼(ke)體對TE號(hao)產生的金(jin)屬屏蔽(bi)作用明顯(xian)，TE號以(yi)穿(chuan)透(tou)金屬(shu)為傳(chuan)播路徑的可(ke)能(neng)性很(hen)小。