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對於(yu)變(bian)頻介(jie)質(zhi)損(sun)耗測(ce)試(shi)儀(yi)的(de)使用情(qing)況(kuang)分析(xi)概述(shu)
點(dian)擊(ji)次數：3384 更新時間：2017-05-23
變(bian)頻介(jie)質(zhi)損(sun)耗測(ce)試(shi)儀(yi)可(ke)以(yi)有(you)效(xiao)地發現(xian)電(dian)器(qi)設(she)備(bei)絕緣的(de)整(zheng)體(ti)受(shou)潮(chao)劣化變質(zhi)，以(yi)及(ji)局(ju)部缺陷等，在(zai)電(dian)工制造、電(dian)氣(qi)設(she)備(bei)安裝(zhuang)、交(jiao)接(jie)和預防(fang)性試(shi)驗中都廣(guang)泛應(ying)用(yong)。變頻介(jie)質(zhi)損(sun)耗測(ce)試(shi)儀(yi)采用變(bian)頻電(dian)源技術，利(li)用單(dan)片機和(he)電(dian)子技(ji)術進(jin)行自(zi)動(dong)頻率變換、模/數轉換和(he)數(shu)據運算(suan)，達到(dao)抗幹(gan)擾能力強、測試(shi)速(su)度快、精(jing)度高(gao)、操作(zuo)簡(jian)便的功能。
變頻介(jie)質(zhi)損(sun)耗測(ce)試(shi)儀(yi)是發(fa)電(dian)廠(chang)、變(bian)電(dian)站(zhan)等現(xian)場(chang)全自(zi)動(dong)測量各種高(gao)壓電(dian)力設(she)備(bei)介(jie)損(sun)正切(qie)值及(ji)電(dian)容(rong)量(liang)的(de)高(gao)精(jing)度儀器(qi)。由於采用了(le)變(bian)頻技術能保證在(zai)強(qiang)電(dian)場(chang)幹擾下(xia)準確(que)測(ce)量(liang)。變頻介(jie)質(zhi)損(sun)耗測(ce)試(shi)儀(yi)采用中文(wen)菜(cai)單操作(zuo)，微機(ji)自動(dong)完成全(quan)過(guo)程(cheng)的測量(liang)。
變頻介(jie)質(zhi)損(sun)耗測(ce)試(shi)儀(yi)性能特(te)點(dian)：
1、儀器(qi)采用復(fu)數電(dian)流(liu)法(fa)，測量(liang)電(dian)容(rong)、介(jie)質(zhi)損(sun)耗及(ji)其(qi)它(ta)參數(shu)。測(ce)試(shi)結(jie)果(guo)精(jing)度高(gao)，便於實(shi)現(xian)自動(dong)化測量(liang)。
2、儀(yi)器(qi)采用了(le)變(bian)頻技術來消除現(xian)場(chang)50Hz工頻幹擾，即使在(zai)強(qiang)電(dian)磁(ci)幹(gan)擾的環境下(xia)也能測得(de)可(ke)靠的數(shu)據。
3、變頻介(jie)質(zhi)損(sun)耗測(ce)試(shi)儀(yi)采用大(da)屏(ping)幕液(ye)晶(jing)顯示(shi)器(qi)，測(ce)試(shi)過(guo)程(cheng)通過(guo)漢(han)字菜(cai)單提(ti)示(shi)既(ji)直(zhi)觀(guan)又(you)便(bian)於操作(zuo)。
4、儀器(qi)操作(zuo)簡(jian)便，測量(liang)過(guo)程(cheng)由微處理器(qi)控(kong)制，只要選擇(ze)好(hao)合適(shi)的(de)測量(liang)方式，數據的測(ce)量就可(ke)在(zai)微(wei)處理器(qi)控(kong)制下(xia)自動(dong)完成。
5、壹(yi)體(ti)化機型(xing)，內(nei)附標準(zhun)電(dian)容(rong)和(he)高(gao)壓電(dian)源，便於(yu)現(xian)場(chang)測試(shi)，減少(shao)現(xian)場(chang)接(jie)線。
6、變(bian)頻介(jie)質(zhi)損(sun)耗測(ce)試(shi)儀(yi)測(ce)量準確(que)度高(gao)，可滿足油介(jie)損(sun)測量(liang)要求(qiu)，因(yin)此(ci)只需配(pei)備(bei)標準(zhun)油杯(bei)，和(he)測(ce)試(shi)線(xian)即可實(shi)現(xian)油介(jie)損(sun)測量(liang)。
7、設(she)測試(shi)功能，可實現(xian)的自激法(fa)測試(shi)，無(wu)需外(wai)置附件，只(zhi)需壹(yi)次測量，C1,C2的電(dian)容(rong)和(he)介(jie)損(sun)全部(bu)測出(chu)。
8、反(fan)接(jie)線測(ce)試(shi)采用技(ji)術,消除了(le)以(yi)往(wang)反接(jie)線數(shu)據不(bu)穩(wen)定(ding)的現(xian)象(xiang)。
9、具有(you)反(fan)接(jie)線低(di)壓屏(ping)蔽功能，在(zai)母線(xian)接(jie)地情(qing)況(kuang)下(xia)，對可(ke)進(jin)行不(bu)拆線(xian)反接(jie)線介(jie)損(sun)測量(liang)。
10、具有(you)測(ce)量高(gao)電(dian)壓(ya)介(jie)損(sun)功能，能夠(gou)使用(yong)高(gao)壓變壓(ya)器(qi)或(huo)串(chuan)聯(lian)諧(xie)振進(jin)行超(chao)過(guo)電(dian)壓(ya)的(de)介(jie)損(sun)試(shi)驗。
12、接(jie)地保(bao)護功能，當儀器(qi)不(bu)接(jie)地線(xian)或接(jie)地不(bu)良時，儀器(qi)不(bu)進(jin)入(ru)正(zheng)常(chang)程(cheng)序，不(bu)輸出(chu)高(gao)壓。過(guo)流(liu)保護(hu)功能，在(zai)試(shi)品(pin)短(duan)路或(huo)擊(ji)穿(chuan)時儀器(qi)不(bu)受(shou)損(sun)壞(huai)。
13、觸(chu)電(dian)保(bao)護(hu)功能，當變頻介(jie)質(zhi)損(sun)耗測(ce)試(shi)儀(yi)操作(zuo)人(ren)員(yuan)不(bu)小心觸電(dian)時候，儀(yi)器(qi)會(hui)立(li)即切斷高(gao)壓，保障試(shi)驗人(ren)員(yuan)的安全。
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