局(ju)部放(fang)電(dian)測(ce)試儀(yi)是(shi)近(jin)年(nian)來新研制生(sheng)產(chan)的又壹新穎局(ju)部放(fang)電(dian)檢(jian)測儀(yi)。廣泛適(shi)用於(yu)變壓(ya)器(qi)、互(hu)感(gan)器(qi)、高(gao)壓(ya)開關(guan)、氧(yang)化(hua)鋅(xin)避(bi)雷器(qi)、電(dian)力(li)電(dian)纜(lan)等(deng)各(ge)種高(gao)電(dian)壓(ya)電(dian)工(gong)產品的局(ju)部放(fang)電(dian)的測(ce)量(liang)，產(chan)品的型(xing)式(shi)試(shi)驗，絕緣的運行監(jian)督(du)等(deng)。
　　局(ju)部放(fang)電(dian)測(ce)試儀(yi)采(cai)用的檢(jian)測方法(fa)是(shi)世界(jie)上目(mu)前zui廣泛采(cai)用的直(zhi)接(jie)法(fa)、電(dian)橋(qiao)平衡法(fa)、電(dian)流脈沖法(fa)，其基本(ben)原(yuan)理：試品產(chan)生壹(yi)次(ci)局(ju)部放(fang)電(dian)時(shi)，試品Cx兩(liang)端產生(sheng)瞬(shun)時的電(dian)壓(ya)變化(hua)ΔU，經過壹耦合(he)電(dian)容(rong)Ck耦合(he)到(dao)檢(jian)測阻(zu)抗(kang)Zm，回(hui)路(lu)中會產(chan)生(sheng)壹脈沖電(dian)流I，將此脈沖電(dian)流I經檢(jian)測(ce)阻抗(kang)Zm產(chan)生(sheng)的脈沖電(dian)壓(ya)進行(xing)采(cai)樣，放大(da)和(he)顯(xian)示處理，就可以(yi)測定(ding)局(ju)部放(fang)電(dian)的視(shi)在放電(dian)量(liang)等(deng)參數(shu)。脈沖電(dian)流法(fa)主要利用(yong)局(ju)部放(fang)電(dian)信(xin)號頻譜(pu)中(zhong)的較(jiao)低頻部分，可避(bi)免無(wu)線電(dian)幹(gan)擾。
　　局部放(fang)電(dian)測(ce)試儀(yi)是(shi)研(yan)制開(kai)發生產(chan)的壹(yi)種新型(xing)儀(yi)器(qi)。該儀(yi)器(qi)具有靈(ling)敏度(du)高(gao)、放大(da)器(qi)系(xi)統(tong)動(dong)態(tai)範圍大、測試(shi)的試(shi)品範(fan)圍廣(guang)、操(cao)作(zuo)簡(jian)便等(deng)優(you)點(dian)。並(bing)采(cai)用先(xian)進的抗(kang)幹(gan)擾(rao)組(zu)件(jian)和(he)*的門(men)顯(xian)示電(dian)路(lu)，抗(kang)幹(gan)擾(rao)能力強(qiang)，並(bing)具有四(si)種高(gao)頻橢(tuo)圓掃(sao)描(miao)，適(shi)用於(yu)高(gao)壓(ya)產品的型(xing)式(shi)、出(chu)廠(chang)試驗，新產品研(yan)制試(shi)驗，電(dian)機(ji)、互(hu)感(gan)器(qi)、電(dian)纜(lan)、套管、電(dian)容(rong)器(qi)、變(bian)壓(ya)器(qi)、避(bi)雷器(qi)、開(kai)關(guan)及(ji)其它高(gao)壓(ya)電(dian)器(qi)局(ju)部放(fang)電(dian)的定(ding)量(liang)測(ce)試。局部放(fang)電(dian)測(ce)試儀(yi)可供制造(zao)廠(chang)、科(ke)研(yan)部門(men)、電(dian)力(li)部門(men)現(xian)場(chang)使(shi)用。
　　局(ju)部放(fang)電(dian)測(ce)試儀(yi)儀(yi)器(qi)操(cao)作(zuo)註(zhu)意事項(xiang)：
　　1、在試(shi)驗開(kai)始加壓(ya)以(yi)前，試驗人(ren)員(yuan)必須(xu)詳(xiang)細(xi)而全(quan)面地檢查壹遍(bian)線路(lu)，以(yi)免線路(lu)接(jie)錯。測試(shi)儀(yi)器(qi)處的接(jie)地線是(shi)否與(yu)接(jie)地體牢(lao)固連接(jie)，若(ruo)連接(jie)不牢(lao)或(huo)在準(zhun)備(bei)工(gong)作(zuo)時(shi)掐頭(tou)去尾(wei)線被(bei)腳踢(ti)斷，這將可能引(yin)起(qi)人(ren)身和設(she)備(bei)事故(gu)。
　　2、對於連(lian)接(jie)線應(ying)避(bi)免將暴露(lu)在外(wai)，防(fang)止(zhi)電(dian)暈(yun)放電(dian)，尤其對於電(dian)壓(ya)等(deng)級(ji)較高(gao)的局(ju)部放(fang)電(dian)試(shi)驗，必(bi)要時要加粗(cu)高(gao)壓(ya)連接(jie)線及(ji)加(jia)裝(zhuang)防(fang)電(dian)暈(yun)罩，減(jian)小因場(chang)強(qiang)過高(gao)引(yin)起(qi)的電(dian)暈(yun)放電(dian)。屏蔽罩不能與試(shi)品的瓷(ci)裙相接(jie)觸。
　　3、壹(yi)般情(qing)況(kuang)下(xia)，在(zai)試驗過程(cheng)中(zhong)，被(bei)試品在(zai)耐(nai)壓(ya)、預(yu)升(sheng)壓(ya)時局(ju)部放(fang)電(dian)量(liang)都(dou)比(bi)正常(chang)值大(da)很(hen)多，此(ci)時(shi)儀(yi)器(qi)的儀(yi)表必然(ran)會超(chao)出(chu)滿刻度(du)。為(wei)防(fang)止(zhi)儀(yi)器(qi)損壞，應(ying)將儀(yi)器(qi)的增(zeng)益(yi)粗(cu)調(tiao)旋(xuan)鈕逆(ni)時(shi)針旋(xuan)轉壹檔(dang)或(huo)更多(duo)檔(dang)，以(yi)不超(chao)出(chu)滿刻度(du)為(wei)標(biao)準(zhun)。當(dang)電(dian)壓(ya)降至(zhi)測量(liang)電(dian)壓(ya)時，再(zai)將增(zeng)益(yi)粗(cu)調(tiao)開(kai)關(guan)順時(shi)針旋(xuan)轉壹檔(dang)或(huo)更多(duo)檔(dang)，以(yi)便記(ji)錄(lu)測(ce)量(liang)值。
　　4、校正(zheng)電(dian)量(liang)發生器(qi)校正(zheng)完(wan)畢(bi)後，壹定要從(cong)高(gao)壓(ya)端脫離(li)，並(bing)關(guan)閉(bi)電(dian)源(yuan)開關，且(qie)儀(yi)器(qi)的增(zeng)益(yi)細(xi)調(tiao)旋(xuan)鈕不可再調(tiao)。因增(zeng)益(yi)粗(cu)調(tiao)開(kai)關(guan)每(mei)相鄰兩(liang)檔(dang)之(zhi)間的關(guan)系(xi)是(shi)十(shi)倍，且(qie)檔(dang)位(wei)有指示，故(gu)升(sheng)壓(ya)後根據(ju)放(fang)電(dian)量(liang)大(da)小，可選擇(ze)合(he)適(shi)量(liang)程(cheng)。逆(ni)時(shi)針旋(xuan)轉時，每(mei)降壹檔(dang)量(liang)程(cheng)擴大十(shi)倍；反之(zhi)，順時(shi)針時(shi)，量(liang)程(cheng)縮小十倍。
　　5、局部放(fang)電(dian)測(ce)試儀(yi)試驗完(wan)畢(bi)後，應(ying)對整個(ge)測(ce)試系(xi)統(tong)再(zai)進行(xing)壹(yi)次(ci)復查校正(zheng)，驗證(zheng)是(shi)否與(yu)試(shi)驗前所校正(zheng)出(chu)的刻度(du)系(xi)數(shu)相等(deng)，以(yi)免測試儀(yi)器(qi)或(huo)其它環(huan)節在試驗過程(cheng)中(zhong)發生故(gu)障(zhang)而使(shi)測試(shi)結果(guo)不對。