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        1. 產(chan)品(pin)目(mu)錄

          Product Catalog

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          局部(bu)放電測(ce)試儀功能原理簡單(dan)介(jie)紹(shao)
          點擊次(ci)數:2259 更(geng)新(xin)時間:2016-11-01
             局部(bu)放電測(ce)試儀是(shi)電(dian)力設備(bei)絕(jue)緣的主要(yao)試驗(yan)項(xiang)目(mu),是根(gen)據及(ji)國內(nei)目(mu)前技術進展(zhan)而開發(fa)的局部(bu)放電測(ce)試儀,它集(ji)計(ji)算機(ji)控(kong)制(zhi),數字采樣,顯示及(ji)打(da)印技術與壹(yi)體(ti)。以(yi)嶄新(xin)的(de)二維(wei)及(ji)三(san)維(wei)圖(tu)形(xing)顯(xian)示局部(bu)放電圖(tu)譜(pu)信息,局部(bu)放電檢(jian)測儀(yi)可單(dan)路(lu)或雙路輸入信號(hao),雙路輸入方(fang)式(shi)使(shi)其具(ju)備(bei)平(ping)衡回路(lu)檢(jian)測、脈沖(chong)極性(xing)鑒別(bie)檢(jian)測功能。下(xia)面就(jiu)由(you)小(xiao)編講解(jie)測試儀的(de)功能原理做個簡(jian)單介(jie)紹(shao),希(xi)望(wang)能對大家(jia)有(you)所(suo)幫(bang)助(zhu)。
            局部(bu)放電測(ce)試儀就(jiu)其(qi)檢(jian)測方(fang)法(fa)、測量回路(lu)、技術性(xing)能參(can)數*符(fu)合GB7354-87及(ji)ICE-270局部(bu)放電測(ce)量標(biao)準(zhun)要(yao)求(qiu)。
            純(chun)程控(kong)工(gong)作(zuo)方式(shi)、全漢字菜單(dan)提(ti)示、任(ren)意(yi)存(cun)貯、打(da)印、自動(dong)生(sheng)成試驗(yan)報(bao)告(gao)、二維(wei)及(ji)三(san)維(wei)局部(bu)放電圖(tu)譜(pu)顯示、采(cai)用(yong)數字開窗技術、抗(kang)幹(gan)擾能力強、雙通道(dao)測(ce)量及(ji)數字差分(fen)技術、可同時測量兩個試品(pin)或壹(yi)個試品(pin)兩(liang)個測(ce)量點的(de)局部(bu)放電信、可方(fang)便(bian)地分(fen)析局部(bu)放電信號(hao)的來源。本產(chan)品(pin)系國(guo)家(jia)“七五(wu)”重點(dian)科(ke)技攻關項(xiang)目(mu)和電(dian)力(li)部(bu)“八五(wu)”重點(dian)推(tui)廣(guang)項(xiang)目(mu)。
            放電測(ce)試儀系統(tong)原(yuan)理(li):
            局部(bu)放電測(ce)試儀采(cai)用(yong)的檢(jian)測方(fang)法(fa)是世界上目(mu)前zui廣(guang)泛采(cai)用的(de)直(zhi)接法(fa)、電橋(qiao)平(ping)衡法(fa)、電流(liu)脈沖(chong)法(fa),其基(ji)本原理(li):試品(pin)產(chan)生(sheng)壹(yi)次(ci)局部(bu)放電時,試品(pin)Cx兩(liang)端產(chan)生(sheng)瞬時的電(dian)壓(ya)變(bian)化ΔU,經過壹(yi)耦合電(dian)容(rong)Ck耦合到檢(jian)測阻(zu)抗(kang)Zm,回(hui)路(lu)中(zhong)會產(chan)生(sheng)壹(yi)脈沖(chong)電(dian)流(liu)I,將(jiang)此(ci)脈沖(chong)電(dian)流(liu)I經檢(jian)測阻(zu)抗(kang)Zm產(chan)生(sheng)的脈沖(chong)電(dian)壓(ya)進行(xing)采(cai)樣,放大和顯(xian)示處(chu)理(li),就可以測(ce)定局部(bu)放電的(de)視在(zai)放電量等參(can)數。脈沖(chong)電(dian)流(liu)法(fa)主要(yao)利(li)用(yong)局部(bu)放電信號(hao)頻譜(pu)中的(de)較低(di)頻部(bu)分(fen),可避免(mian)無(wu)線電(dian)幹(gan)擾。
            放電測(ce)試儀配(pei)置(zhi)RLC型檢(jian)測阻(zu)抗(kang),他測量局部(bu)放電產(chan)生(sheng)的脈沖(chong)信號(hao),並抑制實(shi)驗(yan)電源的工(gong)頻及(ji)其它低(di)頻幹擾信號(hao)。
            總(zong)之(zhi),局部(bu)放電測(ce)試儀為脈沖(chong)峰(feng)值指示形(xing)式(shi)測試系統(tong),具(ju)有(you)計(ji)算機(ji)程控(kong)濾(lv)波、放大、采(cai)樣、存(cun)儲(chu)及(ji)顯示等(deng)功能。數據采集(ji)與試驗(yan)電壓(ya)同(tong)步(bu)進行(xing)。能夠用直(zhi)接法(fa)、電橋(qiao)平(ping)衡法(fa)、復(fu)率(lv)n、平(ping)均放電電(dian)流I、平(ping)方率(lv)D,可作(zuo)各種(zhong)圖(tu)譜(pu):q-n、q-ф、q-ф-t等, 整(zheng)套測(ce)量系統(tong)能檢(jian)測出小(xiao)於1000pC局部(bu)放電量的超聲(sheng)信號(hao)。其軟件(jian)具(ju)備(bei)測(ce)試結果(guo)的(de)統計(ji)評(ping)估和局部(bu)放電數據為基(ji)礎(chu)的局部(bu)放電故(gu)障自動(dong)識別(bie)功能,自動(dong)生(sheng)成報(bao)告(gao);虛(xu)擬示波器有(you)線性(xing)、橢(tuo)圓2維(wei)、3維圖(tu)形(xing)顯(xian)示方(fang)式(shi)。
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